ИСТИНА

В работе приводятся результаты по решению обратных задач новым методом Математический Микроскоп (ММ). При решении системы линейных уравнений Y=A X исходят из того, что матрица А или Аппаратная Функция (АФ) и Y заданы, требуется найти решение X. АФ А – физический объект, измеренный с ошибкой. Можно по “обусловленности” подкорректировать АФ А в А+ в коридоре меньше, чем ошибка задания А, что бы обычным обращением R=inv(A+) решить обратную задачу X=R Y. Имеет место нулевая задача для уравнения типа свертки Y=A X, если Х=DK – символ Дельта-Кронекера, то Y=A. Суть метода ММ: подбирается такое обратимое А, чтобы в X выявились точечные объекты или DK. Выявленные точечные объекты в Х свидетельствую о корректности решения задачи. Приводятся примеры сверх разрешённых (SR) изображений на ММ из астрономии. Метод ММ найдет первые широкие применения в дистанционных исследованиях