ИСТИНА

Спектроскопия эмиссии электронов при возбуждении твердых тел электронным пучком или рентгеновским излучением является основным методом исследования химического состава и электронной структуры поверхностных слоев образцов. Протяженная тонкая структура спектров энергетических потерь электронов EXELFS (Extended Electron Energy Loss Fine Structure) по природе формирования и содержащейся информации аналогична протяженной тонкой структуре спектров рентгеновского поглощения EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure). Анализ EXELFS спектров позволяет определять парциальные длины химической связи, координационные числа и параметры тепловой дисперсии В настоящее время как в EXELFS, так и в EXAFS спектроскопии существует проблема анализа спектров, содержащих наложение сигнала разных химических элементов. В этом случае экспериментальные данные являются результатом суперпозиции рассеяния нескольких волновых векторов. В настоящей работе предложен алгоритм выделения нормированных осциллирующих частей со значительной областью наложения экспериментальных сигналов. Аттестация предложенного метода проведена на диоксиде титана со структурой рутила, анатаза, брукита и рентгеноаморфной структурой. Проведено сравнение с EXAFS спектрами титана и модельными расчетами. Работа выполнена в рамках выполнения гос.задания Отдела физики и химии поверхности УдмФНЦ УрО РАН (номер темы 121030100002-0).