ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Миграция точечных дефектов, зависящая в т.ч. от структурных особенностей кристаллической решетки, оказывает влияние на радиационную стойкость кристаллов. Для изучения особенностей радиационной стойкости кристаллов, различающихся степенью структурного упорядочения и плотностями кристаллических решеток, исследовалось влияние среды термообработки на образование и разрушение ЦО в γ-облученных кристаллах CaF2 и CaF2-nYF3.