|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Статистическое исследование интенсивности пика молекулярного иона в масс-спектрах электронной ионизациидоклад на конференции
- Авторы: Ревельский И.А., Самохин А.С.
- Всероссийская с международным участием Конференция : Пятый съезд ВМСО, IV Всероссийская конференция с международным участием «Масс-спектрометрия и ее прикладные проблемы»
- Даты проведения конференции: 2011
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Самохин А.С.
- Место проведения: Москва, Russia
- Добавил в систему: Самохин Андрей Сергеевич