ИСТИНА

В настоящее время самые актуальные разработки и инновации сконцентрированы вокруг материалов с низкой размерностью – это и сложная наноструктурированная керамика, и нанокомпозитные материалы для фотоники, и топологические сверхпроводники для нового поколения квантовых компьютеров. И на сегодняшний день существует несколько спектроскопических методов исследования локальной атомной структуры: XAFS (X-ray Absorption Fine Structure – использование рентгеновского возбуждения) и EXELFS (Extended Electron Energy Loss Fine Structure – использование электронного возбуждения). Анализ таких спектров дает информацию о том, на каком расстоянии расположены атомы, и в каком количестве. Однако, при исследовании многокомпонентных систем, до сих пор существует проблема анализа спектров, в которых происходит наложение сигналов нескольких химических элементов. В данной работе предложен метод решения проблемы перекрывающихся диапазонов экспериментальных сигналов в EXELFS спектроскопии. Метод основан на расчете модельного сигнала и выделении его из экспериментального спектра.