Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Расчет инженерно-технических характеристик растительности по данным лазерного сканирования
доклад на конференции
Авторы:
Рыльский И.А.
,
Котова Т.В.
,
Нокелайнен Т.С.
,
Панин А.Н.
Международная Конференция :
ИнтерКарто. ИнтерГИС 28. Геоинформационное обеспечение устойчивого развития территорий
Даты проведения конференции:
22-27 октября 2022
Дата доклада:
22 октября 2022
Тип доклада:
Устный
Докладчик:
Рыльский И.А.
не указан
Рыльский И.А.
Котова Т.В.
Нокелайнен Т.С.
Панин А.Н.
Место проведения:
Майкоп, Russia
Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
Изучение динамики социоприродных систем с использованием геоинформационного картографирования и цифровых технологий (ГЗ)
Добавил в систему:
Нокелайнен Татьяна Суловна