Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
FMR line width and exchange bias in F/AF structures as correlated with AF-film thickness and surface roughness
доклад на конференции
Авторы:
Shanova E.I.
,
Chechenin N.G.
,
Dzhun I.O.
Конференция :
Joint European Magnetic Symposia (JEMS 2013)
Даты проведения конференции:
2013
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Shanova E.I.
Chechenin N.G.
Dzhun I.O.
Место проведения:
Rhodes, Greece, Greece
Добавил в систему:
Чеченин Николай Гаврилович