Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Использование морфометрических величин при изучении рельефа поверхности рентгенооптических элементов
доклад на конференции
Авторы:
Дедкова А.А.
,
Флоринский И.В.
,
Чернышев А.К.
Международная Конференция (Симпозиум) :
XXVII Международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника»
Даты проведения конференции:
13-15 марта 2023
Дата доклада:
13 марта 2023
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Дедкова А.А.
не указан
Дедкова А.А.
Флоринский И.В.
Чернышев А.К.
Место проведения:
Нижний Новгород, Russia
Добавил в систему:
Флоринский Игорь Васильевич