ИСТИНА

Одним из основных методов исследования локальной атомной структуры является EXAFS-спектрокопия (Extended X-ray Absorption Fine Structure). Данный метод основан на использовании рентгеновского возбуждения. В ходе эксперимента регистрируется спектр, формирующийся в результате дипольного процесса когерентного рассеяния фотоэлектрона на локальном окружении. Анализ таких спектров дает информацию о параметрах локальной атомной структуры: парциальных координационных числах, длинах химических связей, парметров тепловой дисперсии атомов. Однако при исследовании многокомпонентных систем существует проблема анализа EXAFS-спектров, в которых происходит наложение сигналов нескольких химических элементов. На сегодняшний день данная проблема решается изменением энергетического диапазона, то есть использованием возбуждения не K внутреннего уровня, а L. Подобное решение приводит к понижению качества экспериментального сигнала. Кроме того, это означает, что нужно быть готовым снимать многокомпонентную систему на разных источниках синхротронного излучения, которые чаще всего расположены в разных странах. Но даже если таким образом обойти проблему перекрывающихся сигналов, в конечном результате получается не совсем корректная информация о локальной атомной структуре, поскольку для каждого химического элемента будет своя характеристическая глубина выхода фотоэлектрона. Следовательно, в многокомпонентной системе информация об атомном окружении для каждого химического элемента будет собрана с разной глубины. Таким образом, существует необходимость в разработке алгоритма анализа, позволяющего получать корректную информацию о локальной атомной структуре материала без изменения энергетического диапазона. Данная работа посвящена решению проблемы анализа EXAFS-спектров многокомпонентных систем, в которых присутствует перекрытие сигналов разных химических элементов.