ТОЧНОСТИ И СТАНДАРТЫ ОЦЕНИВАНИЕ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТОВ В ИЗОБРАЖЕНИЯХ С ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ - доклад на конференции | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Авторы: Терентьев Е.Н., Махнюк М.В., Балабан Е.Д., Романов Д.Р., Шацков И.А.
Всероссийская Конференция : Научная конференция <<ЛОМОНОСОВСКИЕ ЧТЕНИЯ>>. Секция физики. Март-апрель 2024 года.
Даты проведения конференции: 20 марта - 3 апреля 2024
Дата доклада: 3 апреля 2024
Тип доклада: Устный
Докладчик: Терентьев Е.Н.
Место проведения: Физический факультет МГУ, Russia
Аннотация доклада:
Стандарты по высокоточному оцениванию параметров объектов нужны дистанционных исследованиях при анализе космических изображений и в литографическом оборудовании для производства памяти и процессоров. Для этого в Мат. Обеспечении Измерительно Вычислительных Систем (МО ИВС) предлагаем использовать методы Градиентной Морфологии (ГМ) и методы Математического Микроскопа (ММ).
Добавил в систему: Терентьев Евгений Николаевич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ИНХС РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА