ИСТИНА

Предложена система уравнений с нелинейностью относительно потенциала электрического поля и температуры, описывающая процесс нагрева полупроводниковых элементов электрической платы, причем с течением времени возможно возникновение теплового и электрического «пробоев».В работе рассматривается метод численной диагностики разрушения решения. Для численного решения дифференциально-алгебраической системы мы используем жесткий метод прямых, известный как SMOL. Он помогает свести исходную систему с уравнением в частных производных к более простой задаче, требующей решения системы обыкновенных дифференциальных уравнений. Эта упрощенная система может быть эффективно решена с помощью одностадийной схемы Розенброка с комплексными коэффициентами CROS1.