![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Методами РЭМ,АСМ,оптической микроскопии и рентгеновского микроанализа с использованием стандартных измерений магнитных параметров материалов изучены локальные свойства приповерхностных слоев электротехнических сплавов.