|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Estimation of the LET threshold of SEP of microelectronics in the experiments with Cf-252 доклад на конференции
- Авторы: Nymmik R.A., Kuznetsv N.V.
- Международная Конференция (Семинар (workshop)) : Space Radiation Environment: Empirical and Physical Models
- Даты проведения конференции: 2-3 июня 1993
- Дата доклада: 3 июня 1993
- Тип доклада: Устный
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Dubna, Russia
- Добавил в систему: Ныммик Рихо Альфредович