Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Determination of Thickness of Thin Films from Grazing Scattering Experiments
доклад на конференции
Авторы:
Shestakov D.K.
,
Gainullin I.K.
Международная Конференция :
Proceedings of 5th International Workshop on High-Resolution Depth Profiling (HRDP 5)
Даты проведения конференции:
2009
Тип доклада:
не указан
Докладчик:
не указан
не указан
Shestakov D.K.
Gainullin I.K.
Место проведения:
Kyoto, Japan, Japan
Добавил в систему:
Гайнуллин Иван Камилевич