Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Количественный анализ структур от макро- до наноуровня
доклад на конференции
Авторы:
Соколов В.Н.
,
Чернов М.С.
,
Кузнецов Р.А.
,
Денисова Л.Г.
,
Юрковец Д.И.
,
Разгулина О.В.
Международная Конференция :
2-й Международный форум по электронно-лучевым технологиям для микроэлектроники
Даты проведения конференции:
9-12 октября 2017
Дата доклада:
10 октября 2017
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Чернов М.С.
не указан
Соколов В.Н.
Чернов М.С.
Кузнецов Р.А.
Денисова Л.Г.
Юрковец Д.И.
Разгулина О.В.
Место проведения:
Зеленоград, Russia
Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
Разработка новых методик изучения грунтов, создания грунтов с заданными свойствами
Добавил в систему:
Чернов Михаил Сергеевич