Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Experimental and computational thickness determination of ultra-thin surface films using backscattered electrons spectra in SEM.
доклад на конференции
Авторы:
Kupreenko S.
,
Orlikovsky N.
,
Tatarintsev A.
,
Tagachenkov A.
,
Rau E.
Международная Конференция :
International conference «Micro- and Nanoelectronics - 2014» (ICMNE-2014)
Даты проведения конференции:
2014
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
Rau E.
не указан
Kupreenko S.
Orlikovsky N.
Tatarintsev A.
Tagachenkov A.
Rau E.
Место проведения:
Moscow-Zvenigirod, Russia, Russia
Добавил в систему:
Рау Эдуард Иванович