|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Pore-scale modelling on different scales using X-ray micro-tomography, scanning electron microscopy and stochastic reconstruction as input dataдоклад на конференции
- Авторы: Gerke K.M., Khirevich S., Vasilyev R.V., Mallants D., Korost D.V., Giliazetdinova D.R., Karsanina M.V.
- Международная Конференция : Computational and Simulation Sciences and eResearch, Annual Conference 2015
- Даты проведения конференции: 10 февраля - 13 марта 2015
- Дата доклада: 11 февраля 2015
- Тип доклада: не указан
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Melbourne Convention and Exhibition Centre, Australia
- Добавил в систему: Васильев Роман Викторович