|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Multiple cell upsets rate estimation for 65 nm SRAM bit-cell in space radiation environmentдоклад на конференции
- Авторы: Muhammad Sajid, Chechenin Nikolay G.
- Международная Конференция : 3rd International Conference and Exhibition on Satellite & Space Missions
- Даты проведения конференции: 11-13 мая 2017
- Дата доклада: 13 мая 2017
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: не указан
- Место проведения: Барселона, Spain
-
Аннотация доклада:
The report addresses the multiple cell upsets in SRAM based on 65 nm bulk CMOS technology node.
- Доклад на конференции выполнен в рамках проекта (проектов):
- Добавил в систему: Чеченин Николай Гаврилович