|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Microscope successful to see through the uppermost atomic layer of single crystal: Principles and applicationsдоклад на конференции
- Авторы: Tatur A.E., Samoilov V.N.
- Международная Конференция : 5th International Conference on Computer Simulation of Radiation Effects in Solids (COSIRES 2000)
- Даты проведения конференции: 24-28 июля 2000
- Дата доклада: 26 июля 2000
- Тип доклада: Стендовый
- Докладчик: Samoilov V.N.
- Место проведения: State College, Pa., U.S.A., United States
- Добавил в систему: Самойлов Владимир Николаевич