ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Рассмотрены особенности квазитопографического картирования электрофизических свойств различных электродных материалов в конфигурации ex situ СТМ и возможности использования получаемой этим методом информации для оптимизации функциональных свойств материалов.