ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
|
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Интенсивное развитие промышленности требует создания и всестороннего исследования новых материалов. Среди объектов пристального внимания ученых в последнее десятилетие появляются сложные органические молекулы, многокомпонентные оксидные соединения и т.д. Важное место занимают методы физики поверхности, в частности рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (далее РФЭС). Для исследований методом РФЭС наиболее актуальной проблемой является устранение или компенсация зарядки высокоомных образцов при проведении исследований, которая может приводить к неправильной интерпретации полученных результатов. Исследования проводились на высокоомных образцах: пленка ZnO на сапфировой подложке и поликристаллический порошок криолита (Na3AlF6). В ходе исследования обнаружено, что даже при применении нейтрализатора (компенсатора зарядки) спектрометра Kratos Ultra.DLD, необходимо тщательно подбирать параметры его работы. При нестационарной зарядке целесообразно проводить съемку однократным сканированием с минимизацией параметров сканирования. Нестационарная во времени зарядка (удвоение спектра) наблюдалась только при энергии электронов 2.5 эВ. Для каждого изолирующего вещества необходимо, по-видимому, подбирать индивидуальные параметры нейтрализатора для получения информативных РФЭС спектров. В ходе исследования удавалось восстановить истинную форму линий спектра, абсолютной компенсации по энергии зарядки получить не удавалось (остается смещение в несколько десятых эВ).