Описание:Методы диагностики на основе атомно-силовой микроскопии; методы литографии и манипуляции в атомно-силовой микроскопии; физические основы и методы диагностики в сканирующей туннельной микроскопии; физические эффекты в туннельно-зондовой нанотехнологии; сканирующая зондовая микроскопия в жидкостях; ближнепольная микроскопия и литография; комбинационное
рамановское рассеяние в сенсорике; основы технологии фокусированных ионных пучков (ФИП); ФИП-диагностика.