Физические принципы оптической микроскопии сверхвысокого разрешения - учебный курс | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Автор: Шутова О.А.
Год создания: 2015
Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
Описание: В курсе, предлагаемом для изучения в рамках цикла магистерского образования, предполагается дать обзор методов современной оптической микроскопии сверхвысокого разрешения. Особое внимание курса нацелено на понимание физических принципов разнообразных методов преодоления дифракционного предела разрешения оптических систем, известного в классической оптике как критерий Рэлея. Курс состоит из трех частей. Первая часть посвящена ближнепольной микроскопии. В этом разделе будет дан обзор всех существующих в настоящее время типов ближнепольных микроскопов, физических принципов их работы, областей применения. Отдельно будет рассмотрена нелинейная ближнепольная оптическая микроскопия. Вторая часть касается микроскопии на основе метаматериалов. В этом разделе будет введено понятие метаматериала, описаны основы физической оптики метаматериалов, прослежена история развития микроскопии на основе метаматериалов от изначальной чисто теоретической идеи суперлинзы Пендри до современных реализаций. И, в-третьих, будет изучена современная микроскопия сверхвысокого разрешения в дальнем поле. В данном разделе будет показано, что классическая микроскопия, берущая свое начало в приборе, созданном А. ван Левенгуком, т.е. микроскопия в дальнем поле, также развивается, и благодаря разнообразным интересным техническим решениям достигает пределов разрешения в ближнепольной микроскопии. Будет дана оценка горизонта возможностей разных методов микроскопии, проведен их сравнительный анализ.
Добавил в систему: Шутова Ольга Анатольевна

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ИНХС РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИСТИНА ИНХС РАН

Физические принципы оптической микроскопии сверхвысокого разрешенияучебный курс

Преподавание курса