Описание:В рамках данного курса предполагается изучение теоретических основ метода рентгеновской дифракции на поликристаллических материалах (порошковой рентгеновской дифракции) - основного метода исследования структуры неорганических материалов и основных современных практических методов анализа дифракционных данных.Курс состоит из трех взаимосвязанных блоков (модулей): блока 1 «Теоретические основы рентгеновской дифракции», блока 2 «Методы рентгеновской дифракции на поликристаллических материалах» и блока 3 «Рентгеноструктурный анализ».
В блоке 1 последовательно излагаются теоретические основы метода, включая необходимые сведения по кристаллохимии и физическим основам взаимодействия рентгеновского излучения с веществом.
В блоке 2 рассматривается аппаратурное оформление метода и различные вопросы анализа дифрактограмм порошка, включая исследование пленок и покрытий, текстурный анализ и анализ микроструктуры. Также кратко рассматриваются другие дифракционные методы (электронная и нейтронная дифракция).
В блоке 3 рассматривается применение порошковой дифракции для структурного анализа.
Подробно рассмотрено индицирование дифрактограмм, включая метод гомологии и методы полнопрофильного структурного анализа (метод Ритвельда).