Описание:Рассмотрены теоретические основы дифракции рентгеновских лучей на кристаллах, теоретические основы дифрактометрии и оборудование для монокристальных экспериментов. Постановка и проведение монокристальных структурных экспериментов, их связь с задачами эксперимента.
Рассмотрены методы определения структур: метод Паттерсона, прямые (статистические) методы, метод изменения знака заряда (charge flipping), метод максимальной энтропии, методы Монте-Карло.
Описаны основные пакеты программ для определения и уточнения структур. Рассмотрена общая схема определения и уточнения структур.
Приведено использование нестандартных методов рентгеноструктурного анализа: метод выбранного атома (аномальное рассеяние), теоретические основы 3+d мерной кристаллографии (модулированные и композитные структуры).