Описание:Курс посвящен рассмотрению возможностей и методик электронной микроскопии и электронной дифракции исследования материалов. Особое внимание уделяется изучению дефектов (2х и 3х мерных). Рассматриваются типы контраста в просвечивающем электронном микроскопе, методы исследования морфологии поверхности и текстур материалов, точность проводимых измерений. Продолжительность курса – 24 ак. ч.