|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
РЕЗОНАНСНАЯ ДИФРАКЦИЯ СИНХРОТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ – НОВЫЙ МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДЫХ ТЕЛ И НАНОСТРУКТУРучебный курс
- Автор: Овчинникова Е.Н.
- Год создания: 2010
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: Спецкурс знакомит с некоторыми новейшими методами исследования свойств твердых тел и наноструктур, базирующимися на особенностях резонансного поглощения и рассеяния рентгеновского синхротронного излучения веществом. Приводится квантовомеханический вывод величины амплитуды рассеяния рентгеновского излучения, показано присутствие магнитного нерезонансного и резонансного вкладов в рассеяние. Рассматриваются проявления анизотропии системы в энергетических спектрах резонансного поглощения рентгеновского излучения: линейный и круговой дихроизм в магнитных системах, естественный круговой дихроизм, магнитокиральный дихроизм. Изучаются «запрещенные» рефлексы в резонансной дифракции рентгеновского излучения, условия их возникновения и реализация: термоиндуцированные «запрещенные» рефлексы в германии и оксиде цинка и их аномальная температурная зависимость; резонансная дифракции СИ в электрически упорядоченных системах и исследование орбитального упорядочения; магнитные “запрещенные” рефлексы. Показано, что изучение рентгеновских энергетических спектров поглощения и дифракции дают информацию о дальнем и ближнем порядке, плотности электронных состояний, оптических фононах. Приводятся примеры использования методов EXAFS и XANES для исследования структуры наносистем, в том числе методы, использующие геометрию скользящего отражения: GISAXS и GIXAFS. Предлагается углубленное изучение некоторых вопросов, связанных с численным моделированием дальней и ближней структур края поглощении (методы на основе теории многократных отражений, функций Грина и метод конечных разностей) , а также атомных тензорных факторов и приобретение практических навыков расчетов в этой области.
- Добавил в систему: Овчинникова Елена Николаевна