Описание:Обзор современных рентгеновских дифрактометров и их оснащение (рентгеновские трубки, счетчики, монохроматоры, рентгеновские зеркала). Физические основы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом, физические основы методов рентгеновской дифракции. Понятие о профильной функции, сравнительный анализ профильных функций.Инструментальный вклад и вклад образца. Интегральная ширина дифракционного рефлекса. Асимметрия рефлекса. Фон дифрактограммы. Практические аспекты профильного анализа: порядок уточнения, сходимость МНК. Влияние микроструктуры на дифракционные данные, основные методы расчета тонкой атомной структуры. Основы качественного и количественного рентгенофазового анализа, основные программы, применяемые для расчета фазовых характеристик. Исследование текстуры образца, построение полюсных фигур, Функции распределения ориентировок. Теоретические основы метода Ритвельда и его применение при исследовании структурно-фазовых характеристик вещества.