|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Обработа рентгендифракционных данныхучебный курс
- Автор: Авдюхина В.М.
- Год создания: 2020
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: Ознакомление студентов с основными компьютерными программами и методами обработки экспериментальных рентгеновских спектров, получаемых с помощью рентгеновских дифрактометров, владение современными профессиональными знаниями и опытом в области компьютерной обработки экспериментальных данных с целью их применения для решения практических задач при исследовании структуры и свойств физических объектов. Подготовка рентгеновского эксперимента (выбор излучения, способы монохроматизации излучения, выбор режимов работы дифрактометра, способы коллимации излучения, подготовка образцов для исследования, выбор эталонного образца). Базовые аппроксимирующие функции рентгеновских дифракционных линий,учет асимметрии профиля дифракционной линии. Особенности обработки дифрактограмм при использовании асимметричной съемки для исследования тонких покрытий. Знакомство с пакетом программ «ORIGIN». Знакомство со сглаживающим методом Савицкого-Галая. Выбор количества точек сглаживания.Разложение рентгеновских спектров на составляющие. Понятие о невязке. Расчет ошибок. Критерий разложения спектра на составляющие. Учет многопиковости дифракционного максимума. Нахождение центра тяжести кривой. Прецизионное нахождение периодов кристаллической решетки в сплавах с использованием метода аппроксимирующих функций. Знакомство с программой Fityk.Особенности ввода экспериментальных данных в программу. Учет и вычитание фона (функция лупы). Разделение перекрывающихся пиков, подбор параметров методом наименьших квадратов с использованием алгоритма Левенберга-Марквардта и метода Нелдера-Мида. Понятие инструментальной ширины дифракционной линии. Особенности применения метода аппроксимаций при определении размеров областей когерентного рассеяния и величины микродеформаций в программе Fityk.Основы метода вейвлет – анализа. Анализ обработки экспериментальных спектров для слабых дифракционных максимумов. Знакомство с работой программы «Smoother». Метод Ритвельда. Уточняемые параметры в методе Ритвельда. Профильная функция, практические советы по схеме уточнения профильных коэффициентов. Последовательность уточнения параметров. Факторы недостоверности, ограничения. Знакомство с работой программы MDI Jade 6.5. Подгонка параметров экспериментальных пиков для получения наилучшего результата их сходимости с дифрактограммой предполагаемой фазы. Критерий качества, параметр несоответствия. Проведение количественного и качественного фазового анализа по экспериментально полученным дифрактограммам для ряда образцов с помощью программы Jade 6.5. Установление типа и характеристик текстуры образца с помощью рентгендифракционных данных.
- Добавил в систему: Авдюхина Валентина Михайловна