Основы рентгеноструктурного анализа и использование методов рентгеновской дифракции на монокристаллах для определения кристаллических структур соединений - учебный курс | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Автор: Миронов А.В.
Год создания: 2016
Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
Описание: Цель курса получить теоретические основы и практические навыки проведения монокристальных дифракционных экспериментов и использования полученных данных для определения струкур химических соединений. В курсе приводится ряд положений либо слабо отраженных в учебниках, либо не представленных в них совсем: символика Холла, основы 3+d мерной кристаллографии (модулированные структуры), метод максимальной энтропии, метод изменения знака заряда (charge flipping). Условно курс можно разделить на три блока. В первом даются теоретические представления описания структур элементарных ячеек (симметрия), дифракции рентгеновских лучей на монокристаллах и связь структуры кристаллов с интенсивностями дифракционных отражений. Во втором рассмотрены различные методы решения структур, даны практические рекомендации по проведению монокристального эксперимента, рассмотрена общая схема расчета рентгеноструктурного эксперимента, дан обзор основных комплексов программ РСА. Третий раздел обзорно посвящен нестандартным методам рентгеноструктурного анализа: модулированные структуры, использование аномального рассеяния.
Добавил в систему: Миронов Андрей Вениаминович

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ИНХС РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИСТИНА ИНХС РАН

Преподавание курса