Описание:Курс включает наиболее общие аспекты аналитической диагностики веществ и материалов методами локального анализа и анализа поверхности, изучение которых необходимо независимо от дальнейшей узкой аналитической специализации слушателя.
Кур ориентирован на формирование и развитие у слушателей универсальных (общенаучных, инструментальных, системных) и профессиональных компетенций на основе приобретения систематических представлений о методологии аналитической диагностики поверхности, тонких пленок и объектов низкой размерности, включающей обоснованный выбор методов качественного и количественного анализа, способов отбора и подготовки проб, проведения измерений и метрологической обработки результатов.
Широкое содержание курса и последовательность изложения материала определяются спецификой имеющихся на настоящий момент аналитических методов, использующихся в области анализа поверхности, тонких пленок и объектов низкой размерности. Границы курса определяются существованием специальных разделов физики твердого тела и физической химии, не связанных с химическим и структурным анализом.