|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Современные методы анализа поверхности, тонких пленок и низкоразмерных структуручебный курс
- Автор: Борзенко А.Г., Алов Н.В.
- Год создания: 2016
- Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Описание: Курс включает наиболее общие аспекты аналитической диагностики веществ и материалов методами локального анализа и анализа поверхности, изучение которых необходимо независимо от дальнейшей узкой аналитической специализации слушателя. Кур ориентирован на формирование и развитие у слушателей универсальных (общенаучных, инструментальных, системных) и профессиональных компетенций на основе приобретения систематических представлений о методологии аналитической диагностики поверхности, тонких пленок и объектов низкой размерности, включающей обоснованный выбор методов качественного и количественного анализа, способов отбора и подготовки проб, проведения измерений и метрологической обработки результатов. Широкое содержание курса и последовательность изложения материала определяются спецификой имеющихся на настоящий момент аналитических методов, использующихся в области анализа поверхности, тонких пленок и объектов низкой размерности. Границы курса определяются существованием специальных разделов физики твердого тела и физической химии, не связанных с химическим и структурным анализом.
- Добавил в систему: Борзенко Андрей Геннадьевич
Преподавание курса
- 8 сентября 2016 - 29 декабря 2016 Борзенко Андрей Геннадьевич
- МГУ имени М.В. Ломоносова, Химический факультет
- обязательная, по выбору (спецкурс), лекции, 36 часов
- Автор: Борзенко А.Г., Алов Н.В.