Основы зондовой микроскопии в наноэлектронике - учебный курс | ИСТИНА – Интеллектуальная Система Тематического Исследования НАукометрических данных

Основы зондовой микроскопии в наноэлектроникеучебный курс

Автор: Иваненко И.П.
Год создания: 2022
Организация: МГУ имени М.В. Ломоносова
Описание: Курс посвящен особенностям применения современных микроскопов, таких как: АСМ, СТМ, СЭМ и ПЭМ. Кроме этого в курсе описываются различия в областях применимости указанных микроскопов, а также описываются наиболее используемые детекторы.
Добавил в систему: Иваненко Илья Петрович

Преподавание курса

2 сентября 2024 - 31 декабря 2024 Иваненко Илья Петрович
МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет, Отделение экспериментальной и теоретической физики, Кафедра молекулярных процессов и экстремальных состояний вещества
обязательная, по выбору (спецкурс), лекции, 36 часов
Автор: Иваненко И.П.

4 сентября 2023 - 25 декабря 2023 Иваненко Илья Петрович
МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет, Отделение экспериментальной и теоретической физики
обязательная, по выбору (спецкурс), лекции, 36 часов
Автор: Иваненко И.П.

5 сентября 2022 - 31 декабря 2022 Иваненко Илья Петрович
МГУ имени М.В. Ломоносова, Физический факультет, Отделение экспериментальной и теоретической физики, Кафедра молекулярных процессов и экстремальных состояний вещества
обязательная, по выбору (спецкурс), лекции, 36 часов
Автор: Иваненко И.П.