Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Методика приготовления и структурные свойства тонких пленок SiOx с различным значением параметра стехиометрии x
дипломная работа (Бакалавр)
Научный руководитель:
Жигунов Д.М.
Автор:
Швыдун Н.В.
Тип:
Бакалавр
Организация, в которой проходила защита:
МГУ имени М.В. Ломоносова
Год защиты:
2009
Аннотация:
Дипломная работа посвящена отработке методики создания тонких пленок SiOx и многослойных структур SiOx/SiO2 и последующему анализу структурных свойств изготовленных пленок SiOx.
Добавил в систему:
Жигунов Денис Михайлович