Аннотация:Одним из недостатков сопряженных полимеров как полупроводниковых материалов является низкая подвижность зарядов. Она в среднем на 3 порядка меньше, чем аналогичный показатель для неорганических материалов. Причиной низкой подвижности могут быть зарядовые ловушки, неизбежно возникающие при деформации полимерных цепей либо при наличии примесных атомов. В данной работе предпринята попытка характеризации зарядовых ловушек в полимере. Глубина зарядовой ловушки определяется по характерному времени выхода заряда из ловушки.
В рамках данной работы проводится экспериментальное исследование динамики релаксации свободных зарядов в пленках смеси органического полупроводника и электронного акцептора методом фотоиндуцированного поглощения. В качестве органического полупроводника выбрано вещество MEH-PPV (poly[2-méthoxy-5-(2-éthyl-hexyloxy)-1,4-phénylène-vinylène]), в качестве электронного акцептора – растворимая модификация фуллерена (PCBM).
Была предложена модель релаксации свободных зарядов, в основе которой лежит предположение о том, что основной причиной миллисекундных времен релаксации свободных зарядов в полупроводниковом полимере являются зарядовые ловушки. На основе этой модели была вычислена характерная глубина зарядовых ловушек MEH-PPV.
Было обнаружено, что пленки смеси MEH-PPV:PCBM деградируют в процессе измерений. Была измерена динамика изменения сигнала фотоиндуцированного поглощения в процессе деградации. На основе полученных данных была оценена глубина зарядовых ловушек, образующихся при окислении
молекул MEH-PPV.