Организация, в которой проходила защита:
ФГАОУ ВО Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"
Год защиты:2020
Аннотация:В выпускной квалификационной работе исследовалась подвижность носителей заряда при различных направлениях тока относительно плоскости тонкого слоя органического полупроводника. Были изучены структура и свойства органических тонкопленочных полевых транзисторов. Также были освоены методы измерения подвижности носителей заряда: CELIV и OFET. В ходе работы были получены тонкие слои органических полупроводников, проведены измерения подвижности носителей заряда в них параллельно плоскости тонкого слоя (метод полевого транзистора) и перпендикулярно ей (метод CELIV). По измеренным величинам установлена связь между подвижностью носителей заряда в различных направлениях и наличием преимущественной ориентации стеков молекул в слое. Работа изложена на 52 страницах, содержит 33 рисунка и список литературы из 25 наименований.
