Организация, в которой проходила защита:МГУ имени М.В. Ломоносова,
ФИЗИЧЕСКИЙ ФАКУЛЬТЕТ, КАФЕДРА ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И КРИОЭЛЕКТРОНИКИ
Год защиты:2022
Аннотация:1. Методом атомно-силовой микроскопии были измерены шероховатости
поверхности неотожженных и отожженных образцов карбида
кремния. До отжига эта величина лежит в диапазоне 1.5-4.4 нм.
После отжига в вакууме при температуре от 1400°C шероховатость
поверхности уменьшается до величины меньше одного нм за
счет сглаживания царапин, оставшихся после процесса химико-
механической планаризации.
2. Отжиг в атмосфере азота приводит к появлению трудно устранимой
пленки нитрида кремния на поверхности. Отжиг в вакууме приводит
к появлению легко устранимой пленки углерода на поверхности.
3. Встраивание атомов азота в кристаллическую решетку карбида
кремния начинается при температуре отжига 1250°C, при температуре
1600°C встраивается гораздо больше атомов, что приводит к
уменьшению поверхностного сопротивления карбида кремния более
чем на порядок