Аннотация:В настоящей дипломной работе исследованы оптические свойства дифракционных решеток нанометровой толщины в условиях возбуждения поверхностных плазмонов. В работе сравнивались решетки с постоянным периодом и с периодом, меняющимся по экспоненциальному закону. С использованием полуаналитических численных методов, в частности, метода связанных волн и метода матрицы рассеяния, рассчитаны частотные и угловые спектры энергетических коэффициентов отражения и пропускания в различные дифракционные порядки, а также зависимость фазы комплексного коэффициента зеркального отражения от угла падения излучения. Показано, что экспоненциальная деформация периода решетки приводит к появлению обширной области с положительной второй производной фазы коэффициента зеркального отражения как функции угла падения, что открывает возможность восстановления профиля дифракционно уширенного пучка при его отражении от нанорешетки. В двухволновом приближении с использованием метода медленно меняющихся амплитуд для зеркально отраженного электрического поля получено аналитическое выражение, позволяющее определить условия достижения заданных характеристик фазы коэффициента зеркального отражения при изменении параметров деформации решетки. Полученные результаты помогут планировать и интерпретировать эксперименты с дифракционными нанорешетками.