Частотно-угловые спектры отражения терагерцового и оптического излучения от пористых материалов и металлических нанорешётокдипломная работа (Специалист)
Аннотация:В работе рассматривается дифракция электромагнитного излучения на дифракционных решётках с разными геометрическими параметрами – толстыми решётками с малым коэффициентом затухания (материал решётки – наноструктурированный оксид алюминия) и металлическими нанорешётками (изготовленных из серебра). Расчёт задач дифракции производится с использованием двух различных численно-аналитических методов. В рамках первого подхода поле раскладывается в ряд по Рэлеевским гармоникам и собственным модам решетки, полученным из уравнения Гельмгольца; полученные решения сшиваются на границах. Второй подход основан на численном решении волнового уравнения Максвелла в тонком слое и применении рекуррентных соотношений, связывающих коэффициенты отражения и прохождения света соседних слоёв. С помощью описанных выше методов находятся коэффициенты прохождения и отражения света от исследуемых структур. Производится расчёт этих коэффициентов при варьируемых параметрах решётки. Для одной из рассматриваемых структур (изготовленной из наноструктурированного оксида алюминия с геометрическими размерами 6.5*30*7.4 мм) расчёт производится как для S-, так и для P- поляризации излучения, распространяющегося перпендикулярно штрихам решетки. Для остальных структур рассматривается только P-поляризация, т.к. она представляет собой наибольший практический интерес, - в данной геометрии задачи (когда излучение падает поперёк решётки) поверхностные волны могут возбуждаться только P-поляризованным светом. Полученные результаты позволяют планировать эксперименты по дифракции света на рассматриваемых структурах.