Аннотация:В работе рассматривается применение методов сканирующей зондовой микроскопии для исследований пленок ферритов-гранатов. Исследуется группа образцов пленок ферритов-гранатов, выращенных ионным распылением, с целью определения структуры поверхности и количественных характеристик рельефа и определения пригодности образцов для устройств спинтроники.
Также рассмматриваются механизмы, ограничивающие применение магнитносиловой и электросиловой микроскопии и ухудшающие качество сканирования. Предлагается схема улучшения качества сканирования магнитносиловыми и электросиловыми методами.