Аннотация: Для проведения экспериментов был введен в эксплуатацию источник твердотельный источник ионов и найдены оптимальные параметры его работы. Проведена ионная имплантация ионов Te в матрицу диоксида кремния. Показано, что ионное облучение и отжиг не влияют на рельеф поверхности. Показано, что при концентрации Te от 0,01% до l % фотолюминисценции не наблюдается. Вероятнее всего это обусловлено не верно выбранными параметрами высокотемпературного отжига.