|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Исследование источников случайной погрешности в элементном анализе методом лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии без образцов сравнениякурсовая работа (Специалист)
- Научный руководитель: Сушков Николай Иванович
- Автор: Ферубко Андрей Олегович
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Кафедра: Кафедра лазерной химии
- Год защиты: 2022
- Курс: 4
- Аннотация: Построение градуировок в лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии (ЛИЭС) часто затруднительно из-за недостаточного количества подходящих стандартных образцов, что заставляет переходить к анализу без образцов сравнения (б.о.с.). Данный подход основан на диагностике плазмы (т.е. определении её температуры и электронной плотности) и расчёте равновесий ионизации, но при этом возникают значительные погрешности, из-за чего ЛИЭС б.о.с. обычно даёт лишь полуколичественные результаты. При помощи математического анализа соответствующих уравнений можно исследовать основные источники случайных погрешностей и найти такие условия анализа, при которых погрешность оценки параметров плазмы оказывает минимальное влияние на погрешность анализа. В настоящей работе, на основании экспериментальных данных, такой математический анализ был проведён на примере определения соотношения натрия и калия в биологическом образце. Компьютерное моделирование равновесий в плазме с применением численного дифференцирования позволило исследовать вклад источников погрешности и найти оптимальные условия и параметры плазмы для анализа методом ЛИЭС. Показано, что для линий Na I 330.24 нм и K I 404.41 нм погрешность интенсивности вносит наибольший вклад в погрешность анализа. Поэтому можно рекомендовать накопление возможно большего количества спектров для уменьшения этого вклада. Также показано, что вклад погрешности электронной плотности в суммарную ошибку можно считать равным нулю (при типичных параметрах лазерно-индуцированной плазмы).
- Добавил в систему: Сушков Николай Иванович