|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Измерение плотности микроструктур, изготовленных методом двухфотонной литографиикурсовая работа (Специалист)
- Научный руководитель: Шарипова М.И.
- Автор: Четверин Родион
- Тип: Специалист
- Организация, в которой проходила защита: МГУ имени М.В. Ломоносова
- Кафедра: Кафедра квантовой электроники
- Год защиты: 2022
- Курс: 2
- Аннотация: Двухфотонная литография является перспективным методом изготовления микро- и наноэлементов различного назначения. Благодаря высокому разрешению метода становится возможным изготавливать детали для электромеханических схем. Биологическая совместимость некоторых материалов позволяет использовать метод в тканевой инженерии, а также для изготовления различных медицинских устройств. Еще одно применение этого элемента - изготовление преломляющих элементов для рентгеновской оптики. Во всех этих случаях необходимо знать механические свойства изготовленных элементов. В частности, для оптики знание плотности преломляющего элемента важно, так как его показатель преломления зависит от плотности. Однако в настоящее время механические свойства объектов, изготовляемых методом двухмоторной литографии, изучены довольно плохо. Целью этой работы является определение плотности таких объектов.
- Добавил в систему: Шарипова Маргарита Ильгизовна