Технические характеристики: |
Аналитический трансмиссионный электронный микроскоп (АЭМ) JEM-2100 – это высокоразрешающий ТЭМ с повышенной проникающей способностью электронного луча (это обеспечивается ускоряющим напряжением 200 кВ), который, также как и обычные ТЭМ с ускоряющим напряжением 100 – 120 кВ, позволяет наблюдать и фотографировать микро- и ультраструктуру тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Паспортное разрешение JEM-2100: 0,25 нм по точкам и 0,14 нм по кристаллической решетке.
Наряду с получением обычных (светлопольных) изображений в диапазоне увеличений от 100х до 1 200 000х, АЭМ позволяет получать и анализировать картины электронной дифракции, дающие информацию о кристаллической структуре выбранных микроучастков, и получать темнопольные изображения «в свете» отдельного дифракционного рефлекса. Все это осуществимо и на обычных 100-киловольтных ТЭМ, однако на АЭМ эти методы реализуются более удобно, и хорошо сочетаются с аналитическими методами.
|