Вернуться к списку оборудования

Система анализа поверхности твердых тел на базе спектрометра KRATOS AXIS Ultra DLD

Входит в состав Система анализа поверхности твердых тел на базе спектрометра KRATOS AXIS Ultra DLD [0275-44-2022, 1801-2011]
Краткое название: ПР104_ KRATOSXPS
Тип: Спектрометры и другие аналитико-измерительные приборы и приборы для структурного анализа / Спектрометры / ЭСХА-спектрометры
Подразделение: Химический факультет
Начало эксплуатации: дата не указана
Идентификатор: 437915776
Технические характеристики: Рентгеновский источник - монохроматический AlKa (1486.7 эВ). Линзы - электростатические и магнитные. Нейтрализатор - электронный источник. Анализатор - полусферический с возможностью построения фотоэлектронных изображений. Детектор - многоканальная пластина с линией задержки. Энергетическое разрешение - <0.5 эВ при энергии пропускания 10 эВ, меньше <0.7 эВ при энергии пропускания 20 эВ, <0.75 эВ при энергии пропускания 40 эВ. Область анализа в режиме РФЭС - 15*15 мкм (минимум), 300*700 мкм (максимум) Максимальная толщина образца - 4 мм Максимальный размер образца - 25*25 мм для держателя стаб, 25*100 мм для держателя бар. Предельное давление - 5*10^-10 мбар. Дополнительное оборудование: 1. Ультрафиолетовый источник для УФЭС спектроскопии (HeI, HeII). 2. Аргоновая пушка для очистки образца и послойного травления. 3. Электронная пушка для Оже спектроскопии. 4. Каталитическая ячейка для предварительной обработки образца. 5. Нагрев-охлаждение образца. 6. Масс-спектрометр. 7. Устройство для излома образца в вакууме.
Расписание(комплекс):

с.н.с. Савилов С.В
(495)649-08-85, savilov@chem.msu.ru
Адрес (комлекс):

Москва,Ленинские горы, д.1, стр.10, П-09 (подвал)
Список зарегистрированных ответственных за оборудование комплекса: