Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Journal of Aeronautics & Aerospace Engineering
журнал
Индексирование: нет
Период активности журнала: не указан
Добавил в систему:
Чеченин Николай Гаврилович
Статьи, опубликованные в журнале
2018
Visual TCAD simulation of total ionizing dose effects on advanced CMOS devices for space applications
Muhammad Nabee Hanif
,
Muhammad Sajid
,
Chechenin N.G.
в журнале
Journal of Aeronautics & Aerospace Engineering
, том 7, с. 86-86
DOI