Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Способ выявления патологических очагов в спинном мозге при рассеянном склерозе
патент
Авторы:
Китаев С.В.
,
Кротенкова М.В.
,
Брюхов В.В.
,
Куликова С.Н.
Номер:
2472433
Дата публикации патента:
2 декабря 2011 г.
Добавил в систему:
Брюхов Василий Валерьевич