ИСТИНА

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии и может быть использована при исследовании микрорельефа отражающих поверхностей, например, в кристаллографии, метрологии, при изучении высокомолекулярных соединений и т.д. Полезная модель позволяет добиться повышенной информативности, простоты и удобства в работе со сканирующим зондовым микроскопом (СЗМ), за счет того, что в известном СЗМ, включающем систему видеонаблюдения, держатель образца, сканер и зонд, микроскоп дополнительно содержит, закрепленные с возможностью ориентации в пространстве, источник светового потока, отражательный элемент и оптический делительный элемент, как пропускающий, так и отражающий часть светового потока, идущего от источника, причем держатель образца расположен на пути одного из потоков света, отраженного или пропущенного делительным элементом, а отражательный элемент на пути второго потока света, таким образом, чтобы ход световых потоков, отраженных от поверхности отражательного элемента и поверхности держателя образца или поверхности помещенного на него исследуемого образца, совпадал с ходом падающих на них световых потоков, и после дальнейшего отражения одного отраженного светового потока от делительного элемента и прохождения второго отраженного светового потока через делительный элемент каждый из них был направлен в систему видеонаблюдения. Предложено 5 различных вариантов устройства СЗМ.