|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Способ измерения высоты микрорельефа поверхности интерференционным методомпатент
- Авторы: Базыленко В.А., Бацев С.В., Давлетшин И.З., Уласевич М.С., Тимошенко В.Ю.
- Номер: 2373494
- Дата публикации патента: 20 ноября 2009 г.
- Добавил в систему: Базыленко Валерий Андреевич