Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
отправить сообщение
Евстафьева
пользователь
Соавторы:
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
,
Татаринцев А.А.
,
Gostev A.V.
,
Дицман С.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Стебельков В.А.
,
Фрейнкман Б.Г.
,
Хорошилов В.В.
,
Дюков В.Г.
,
Плиес Э.
,
Гостев А.В.
,
Милеев В.Н.
показать полностью...
,
Новиков Л.С.
,
Орликовский Н.А.
,
Трубицын А.В.
4 статьи
,
3 доклада на конференциях
,
9 тезисов докладов
Количество цитирований статей в журналах по данным Scopus: 7
IstinaResearcherID (IRID): 8513590
Деятельность
Статьи в журналах
2014
X-ray microanalysis of uranium dioxide particles by using low electron beam energy
Дюков В.Г.,
Евстафьева Е.Н.
,
Стебельков В.А.
,
Татаринцев А.А.
,
Хорошилов В.В.
в журнале
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics
, издательство
Allerton Press Inc.
(United States)
, том 78, № 9, с. 851-853
DOI
2014
Рентгеновские микроанализ частиц диоксида урана при низкой энергии электронов зонда
Дюков В.Г.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Стебельков В.А.
,
Татаринцев А.А.
,
Хорошилов В.В.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 78, № 9, с. 1090-1092
2010
Methodological Aspects of the Electron_Beam Investigation of Dielectric Target Charging
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Сеннов Р.А.
,
Плиес Э.
,
Фрейнкман Б.Г.
в журнале
BULLETIN-RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES PHYSICS C/C OF IZVESTIIA-ROSSIISKAIA AKADEMIIA NAUK SERIIA FIZICHESKAIA
, том 74, № 7, с. 979-987
DOI
2010
Методические аспекты электронно-зондовых исследований процессов зарядки диэлектрических мишеней
Татаринцев А.А.
,
Рау Э.И.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Сеннов Р.А.
,
Фрейнкман Б.Г.
,
Плиес Э.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 74, № 7, с. 1020-1028
Доклады на конференциях
2012
The charging of PMMA-film resist in electron beam lithography
(Стендовый)
Авторы:
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
Micro- and Nanoelectronics – 2012
, Москва - Звенигород, Россия, Россия, 2012
2012
Сравнение методов измерения высоковольтных локальных потенциалов заряженных диэлектриков - электронноспектроскопического и порогового рентгеновского излучения
(Стендовый)
Авторы:
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
XXIV Российская конференция по электронной микроскопии 29.05-01.06.2012
, Черноголовка, 2012
2012
The reason of distinction of experimental values of dielectrics electron-beam charging times
(Стендовый)
Авторы:
Рау Э.И.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Татаринцев А.А.
15Th European Microscopy Congress (EMC 2012)
, Манчестер, Великобритания, 16-21 сентября 2012
Тезисы докладов
2013
Рентгеновский микроанализ частиц диоксида урана при низкой энергии электронов зонда
Дюков В.Г.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Стебельков В.А.
,
Татаринцев А.А.
,
Хорошилов В.В.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 226
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Электронно-зондовый томографический комплекс на базе РЭМ для диагностики микро- и наноструктур
Рау Э.И.
,
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Татаринцев А.А.
,
Трубицын А.В.
в сборнике
Фундаментальные и прикладные исследования, разработка и применение высоких технологий в промышленности и экономике
, тезисы, с. 285
2010
Уточнение представлений о механизме зарядки диэлектрических мишеней
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
,
Татаринцев А.А.
,
Фрейнкман Б.Г.
в сборнике
Тезисы докладов XXIII Российской конференции по электронной микроскопии
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 101
2009
Моделирование зарядки диэлектрических мишеней под воздействием электронного облучения
Милеев В.Н.
,
Новиков Л.С.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
,
Татаринцев А.А.
в сборнике
X Межвузовская научная школа молодых специалистов
, тезисы, с. 259-264