ИСТИНА

Евстафьева пользователь

Соавторы: Рау Э.И., Сеннов Р.А., Татаринцев А.А., Gostev A.V., Дицман С.А., Орликовский Н.А., Стебельков В.А., Фрейнкман Б.Г., Хорошилов В.В., Дюков В.Г., Плиес Э., Гостев А.В., Милеев В.Н. показать полностью..., Новиков Л.С., Орликовский Н.А., Трубицын А.В.

4 статьи, 3 доклада на конференциях, 9 тезисов докладов

Количество цитирований статей в журналах по данным Scopus: 7

IstinaResearcherID (IRID): 8513590

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2014 X-ray microanalysis of uranium dioxide particles by using low electron beam energy
    • Дюков В.Г., Евстафьева Е.Н., Стебельков В.А., Татаринцев А.А., Хорошилов В.В.
    • в журнале Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics, издательство Allerton Press Inc. (United States), том 78, № 9, с. 851-853 DOI
  • • 2014 Рентгеновские микроанализ частиц диоксида урана при низкой энергии электронов зонда
    • Дюков В.Г., Евстафьева Е.Н., Стебельков В.А., Татаринцев А.А., Хорошилов В.В.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 78, № 9, с. 1090-1092
  • 
    • 2010 Methodological Aspects of the Electron_Beam Investigation of Dielectric Target Charging
    • Рау Э.И., Татаринцев А.А., Евстафьева Е.Н., Сеннов Р.А., Плиес Э., Фрейнкман Б.Г.
    • в журнале BULLETIN-RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES PHYSICS C/C OF IZVESTIIA-ROSSIISKAIA AKADEMIIA NAUK SERIIA FIZICHESKAIA, том 74, № 7, с. 979-987 DOI
  • • 2010 Методические аспекты электронно-зондовых исследований процессов зарядки диэлектрических мишеней
    • Татаринцев А.А., Рау Э.И., Евстафьева Е.Н., Сеннов Р.А., Фрейнкман Б.Г., Плиес Э.
    • в журнале Известия Российской академии наук. Серия физическая, том 74, № 7, с. 1020-1028

• Доклады на конференциях

  • • 2012 The charging of PMMA-film resist in electron beam lithography (Стендовый)
    • Авторы: Евстафьева Е.Н., Татаринцев А.А., Рау Э.И.
    • Micro- and Nanoelectronics – 2012, Москва - Звенигород, Россия, Россия, 2012
  • • 2012 Сравнение методов измерения высоковольтных локальных потенциалов заряженных диэлектриков - электронноспектроскопического и порогового рентгеновского излучения (Стендовый)
    • Авторы: Рау Э.И., Евстафьева Е.Н., Татаринцев А.А.
    • XXIV Российская конференция по электронной микроскопии, 2012
  • • 2012 The reason of distinction of experimental values of dielectrics electron-beam charging times (Стендовый)
    • Авторы: Рау Э.И., Татаринцев А.А., Евстафьева Е.Н.
    • 15Th European Microscopy Congress (EMC 2012), Манчестер, Великобритания, 16-21 сентября 2012

• Тезисы докладов

  • • 2013 Рентгеновский микроанализ частиц диоксида урана при низкой энергии электронов зонда
    • Дюков В.Г., Евстафьева Е.Н., Стебельков В.А., Татаринцев А.А., Хорошилов В.В.
    • в сборнике Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013, место издания ИПТМ РАН Черноголовка, тезисы, с. 226
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Электронно-зондовый томографический комплекс на базе РЭМ для диагностики микро- и наноструктур
    • Рау Э.И., Гостев А.В., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Татаринцев А.А., Трубицын А.В.
    • в сборнике Фундаментальные и прикладные исследования, разработка и применение высоких технологий в промышленности и экономике, тезисы, с. 285
  • • 2010 Уточнение представлений о механизме зарядки диэлектрических мишеней
    • Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Татаринцев А.А., Фрейнкман Б.Г.
    • в сборнике Тезисы докладов XXIII Российской конференции по электронной микроскопии, место издания Черноголовка, тезисы, с. 101
  • • 2009 Моделирование зарядки диэлектрических мишеней под воздействием электронного облучения
    • Милеев В.Н., Новиков Л.С., Евстафьева Е.Н., Рау Э.И., Сеннов Р.А., Татаринцев А.А.
    • в сборнике X Межвузовская научная школа молодых специалистов, тезисы, с. 259-264