|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Создание современных «толстых» аморфных микропроводов с помощью модифицированного метода Улитовского - Тейлора и мониторинг их свойствНИР
Obtaining of modern "thick" amorphous microwires produced by the modernized Ulitovsky-Taylor method and investigations of their properties
- Руководитель НИР: Харламова А.М.
- Участники НИР: Шалыгина (Чепурова) Е.Е.
- Подразделение: Кафедра магнетизма
- Срок исполнения: 5 марта 2014 г. - 31 декабря 2015 г.
- Номер договора (контракта, соглашения): 1596 ГУ1 /2014
- Тип: Фундаментальная
- Приоритетное направление научных исследований: Энергетика и энергосбережение
-
Рубрики ГРНТИ:
- 29.19.39 Ферромагнетики
-
Ключевые слова:
магнитные свойства, аморфные микропровода, аморфные магнитные материалы
-
Описание:
Получение «толстых» аморфных микропроводов сложных составов, обеспечивающих многообразие их магнитных характеристик, в частности, получение микропроводов с прямоугольной петлей гистерезиса. Измерение магнитных и физических свойств новых «толстых» микропроводов с различными диаметрами металлической жилы. Исследование зависимости физических и магнитных свойств «толстых» микропроводов от упругих напряжений. Компьютерная обработка полученных экспериментальных данных.
-
Основные результаты:
Исследованы структурные и магнитные характеристики «толстых» Fe31Co34Ni10(SiB)25 и Co71Fe4(SiB)25 микропроводов в стекле, полученных с помощью модернизированного метода Улитовского – Тейлора. Диаметр металлической жилы изменялся от 50 до 200 мкм. Установлено, что провода обладают стабильными геометрическими параметрами, имеют гладкую блестящую поверхность, практически не содержащую дефектов, характеризуются высокими прочностными и упругими свойствами. Разрушение микропроводов не происходит даже после полного затягивания в узел. Исследования подтвердили, что стеклянная оболочка не оказывает влияния на магнитные свойства микропроводов. Поле насыщения Hs и коэрцитивная сила Hc микропроводов растут с увеличением диаметра металлической жилы. Обнаруженная слабая дисперсия магнитной анизотропии в приповерхностных слоях микропроводов была объяснена стабильными геометрическими параметрами микропроводов вдоль всей их длины. Как результат, микропровода характеризуются высокой однородностью приповерхностных локальных магнитных характеристик. В частности, изменения локальных значений полей насыщения Hs не превышает 5%.
- Добавил в систему: Харламова Анна Михайловна
Источник финансирования НИР
| Фонд содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (Фонд содействия инновациям), Участник молодежного научно- инновационного конкурса (УМНИК) |
Этапы НИР
| # | Сроки | Название |
| 1 | 5 марта 2014 г.-5 сентября 2014 г. | Получение «толстых» аморфных микропроводов сложных составов, обеспечивающих многообразие их магнитных характеристик, в частности, получение микропроводов с прямоугольной петлей гистерезиса. Измерение магнитных и физических свойств новых «толстых» микропроводов с различными диаметрами металлической жилы. Исследование зависимости физических и магнитных свойств «толстых» микропроводов от упругих напряжений. Компьютерная обработка полученных экспериментальных данных. |
| Результаты этапа: | ||
Прикрепленные к НИР результаты
Для прикрепления результата сначала выберете тип результата (статьи, книги, ...). После чего введите несколько символов в поле поиска прикрепляемого результата, затем выберете один из предложенных и нажмите кнопку "Добавить".